System and method of measuring low impedances

   
   

A method of measuring impedance in a system comprises holding a microprocessor in reset mode and providing a clock to the microprocessor at a frequency FCLK while measuring a first current level, providing the clock at frequency FCLK/N while measuring a second current level, where N is a positive integer, measuring the voltage at a plurality of ports in the system a plurality of times to obtain a plurality of sets of voltage measurements while holding the microprocessor in reset mode, toggling the clock frequency between FOLK and FOLK/N, and generating a periodic current waveform. The voltage measurements are averaged. The method further comprises determining and removing clock frequency-dependent noises to generate a filtered average voltage, and determining an impedance by dividing a Fourier component of the filtered average voltage by a Fourier component of the periodic current waveform having alternating first and second current levels.

Метод измерять импеданс в системе состоит из держать микропроцессор в режиме возврата и снабубежать часы микропроцессор на частоте FCLK пока измеряющ первый в настоящее время уровень, обеспечивая часы на частоте FCLK/N пока измеряющ второй в настоящее время уровень, где н будет положительный интежер, измеряющ напряжение тока на множественности портов в системе множественность времен получить множественность комплектов измерений напряжения тока пока держащ микропроцессор в режиме возврата, toggling частота часов между ЛЮДЬМИ и FOLK/N, и производящ периодическую в настоящее время форму волны. Измерения напряжения тока усреднены. Метод более дальнейший состоит из обусловливать и извлекать шумы часов frequency-dependent для того чтобы произвести фильтрованное среднее напряжение тока, и обусловливать импеданс путем разделять компонент fourier фильтрованного среднего напряжения тока компонентом fourier периодической в настоящее время формы волны имея чередовать сперва и во-вторых в настоящее время уровни.

 
Web www.patentalert.com

< Apparatus for and method of memory-affinity process scheduling in CC-NUMA systems

< System and method for retrieving an abstracted portion of a file without regard to the operating system of the current host computer

> Spare ADF scan window storage

> Systems and methods for limiting access to imaging device consumable components

~ 00121