Process error prevention method in semiconductor fabricating equipment

   
   

A method for preventing process errors in a semiconductor fabricating process allows only a few authorized engineers to release interlocks of semiconductor fabricating equipment when a count of interlock occurrences exceeds a predetermined number within a predetermined period of time. By allowing a semiconductor fabricating equipment operator only limited ability to reset equipment interlocks, repeated interlock conditions caused by test specification failures may be over-ridden only a predetermined number of times before the semiconductor fabricating equipment is disabled completely. The disabled semiconductor fabricating equipment may only be re-enabled using an authorization code, which is only made available to selected personnel, thereby ensuring that necessary repairs and corrections have been implemented on the semiconductor fabricating equipment.

Метод для предотвращать отростчатые ошибки в процессе полупроводника изготовляя позволяет только несколько утверженным инженерам выпустить блокировки оборудования полупроводника изготовляя когда отсчет возникновений блокировки превышает предопределенный номер в пределах предопределенного периода времени. Путем позволять оператору оборудования полупроводника изготовляя только ограничил способность переустановить блокировки оборудования, повторные условия блокировки причиненные отказами спецификации испытания смогите отвергнуться только предопределенному количеству времен прежде чем оборудование полупроводника изготовляя будет выведено из строя вполне. Оборудование неработающего полупроводника изготовляя может только быт6$ет-позволено использующ Кодего утверждения, которое только сделано имеющимся к выбранному персоналу, таким образом обеспечивая что обязательно ремонты и коррекции были снабжены на оборудовании полупроводника изготовляя.

 
Web www.patentalert.com

< Fast image simulation for photolithography

< Waveguide-type optical device and manufacturing method therefor

> Structure and method for amplifying target overlay errors using the synthesized beat signal between interleaved arrays of differing periodicity

> Semiconductor automation system for a daily check and method thereof

~ 00121