Inspection apparatus and probe card

   
   

An object of the present invention is to provide an inspecting device equipped with a probe card capable of inspecting an object to be inspected appropriately even at heating or cooling time. The inspecting device of the present invention is an inspecting device equipped with a performance substrate provided with a terminal for inspection; a contactor substrate provided with a probe contacting an object to be inspected; and a probe card intervening between the probe of conductor substrate and a terminal of performance substrate, wherein the probe card is a multi-layered substrate in which a resin thin film is laminated on a ceramic board.

Предмет присытствыющего вымысла должен обеспечить проверяя приспособление оборудованное с карточкой зонда способной проверять предмет для того чтобы быть проверенные соотвествующе ровными на топлении или охлаждая времени. Проверяя приспособлением присытствыющего вымысла будет проверяя приспособление оборудованное при субстрат представления обеспеченный с стержнем для осмотра; субстрат контактора обеспечил при зонд контактируя предмет, котор нужно проверить; и карточка зонда вмешиваясь между зондом субстрата проводника и стержнем субстрата представления, при котором карточка зонда будет multi-layered субстратом в котором пленка смолаы тонкая прокатана на керамической доске.

 
Web www.patentalert.com

< Micro-relay

< Mask used for exposing a porous substrate

> Semiconductor device and method of fabricating the same

> Forming thermally curable materials on a support structure in an electronic device

~ 00120