The present invention provides methods and an apparatus for the rapid
analysis of data from imaging, spectroscopic, scanning probe, or sensor
methods. By application of mathematical transform analysis such as wavelet
transform algorithms to one or multi-order data sets obtained from
individual samples or sample arrays, the analytical features of the data
are preserved while undesired noise is removed, thereby reducing the
integration time by more than 10-fold in subsequent measurements. The
reduction in integration time enables the high-throughput measurement of
combinatorial libraries and rapid dynamic processes, while still providing
a signal-to-noise level suitable for a reliable measurement.
A invenção atual fornece métodos e um instrumento para a análise rápida dos dados da imagem latente, da ponta de prova spectroscopic, fazendo a varredura, ou dos métodos do sensor. Pela aplicação de matemático transforme a análise tal como o wavelet transformam algoritmos a um ou as séries de dados de da multi-ordem obtidas das amostras individuais ou das disposições da amostra, as características analíticas dos dados são preservadas quando o ruído indesejado for removido, reduzindo desse modo o tempo de integração mais por do que 10-fold em medidas subseqüentes. A redução no tempo de integração permite a medida do elevado-high-throughput de bibliotecas combinatorial e de processos dinâmicos rápidos, ao ainda fornecer um apropriado nivelado signal-to-noise para uma medida de confiança.
