Scan interface chip (SIC) system and method for scan testing electronic systems

   
   

A scan test interface system and method provides an interface between upstream scan test devices and downstream scan test devices. The scan test interface system and method receives scan test signals, facilitates flexible configuration of scan test signals and transmits scan test signals on subordinate scan test chains. A scan test interface includes a scan test interface register, a system interface, a scan test interface controller, a board interface and a selection circuit.

Un sistema e un metodo di interfaccia della prova di esplorazione fornisce un'interfaccia fra i dispositivi verso l'alto della prova di esplorazione ed i dispositivi downstream della prova di esplorazione. Il sistema ed il metodo di interfaccia della prova di esplorazione riceve la prova di esplorazione segnala, facilita la configurazione flessibile della prova di esplorazione segnala e trasmette i segnali della prova di esplorazione sulle catene secondarie della prova di esplorazione. Un'interfaccia della prova di esplorazione include un registro dell'interfaccia della prova di esplorazione, un'interfaccia del sistema, un regolatore dell'interfaccia della prova di esplorazione, un'interfaccia del bordo e un circuito di selezione.

 
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