Herein is disclosed a method and apparatus for controlling a lapping
process, so as to create a read/write head that contains a primary
magnetoresistive read element with a desired stripe height. An improved
lapping guide is achieved by incorporating a secondary magnetoresistive
element into a read/write head. By virtue of its location on the same
read/write head as a primary magnetoresistive element (used for reading
data during operation of the disc drive), the secondary element is located
in close proximity to the primary element, resulting in smaller tolerances
in aligning or relating the top edges of the primary and secondary
elements. Accordingly, the secondary magnetoresistive element more
reliably serves as a proxy for the primary element. Optionally, the
secondary magnetoresistive element may be fashioned with identical
dimensions as the primary element, so as to render the secondary element
equivalent to the primary element with regard to magnetic sensitivity.
During lapping, the magnetic sensitivity of the secondary magnetoresistive
element is monitored and used as a proxy measurement of the magnetic
sensitivity of the primary magnetoresistive read element.
Ci-dessus est révélé une méthode et un appareil pour commander un processus enroulant, afin de créer une tête lecture/écriture qui contient un élément indiqué magnétorésistant primaire avec une taille désirée de raie. Un guide enroulant amélioré est réalisé en incorporant un élément magnétorésistant secondaire dans une tête lecture/écriture. En vertu de son endroit sur la même tête lecture/écriture comme élément magnétorésistant primaire (utilisé pour des données de lecture lors du fonctionnement de l'unité de disques), l'élément secondaire est plac dans la proximité étroite à l'élément primaire, ayant pour résultat de plus petites tolérances en alignant ou en reliant les bords supérieurs des éléments primaires et secondaires. En conséquence, l'élément magnétorésistant secondaire sert plus sûrement de procuration à l'élément primaire. Sur option, l'élément magnétorésistant secondaire peut être façonné avec des dimensions identiques comme élément primaire, afin de rendre l'élément secondaire équivalent à l'élément primaire en ce qui concerne la sensibilité magnétique. Pendant enrouler, la sensibilité magnétique de l'élément magnétorésistant secondaire est surveillée et employée comme mesure de procuration de la sensibilité magnétique de l'élément lu magnétorésistant primaire.
