Diagnostic circuitry of a process device is used to detect degradation of a
resistive element of the process device while the process device remains
online, without the use of an additional power source. In addition, once
degradation of the resistive element is detected, the diagnostic circuitry
can be compensated for automatically. The diagnostic circuitry includes a
testing circuit and a processing system. The testing circuit is coupled to
the resistive element and is configured to apply a test signal to the
resistive element. The test signal heats the resistive element and causes
the resistive element to generate a response signal. The processing system
compares a change in the response signal to a corresponding reference to
detect degradation of the resistive element.
Τα διαγνωστικά στοιχεία κυκλώματος μιας συσκευής διαδικασίας χρησιμοποιούνται για να ανιχνεύσουν την υποβάθμιση ενός ανθεκτικού στοιχείου της συσκευής διαδικασίας ενώ η συσκευή διαδικασίας παραμένει σε απευθείας σύνδεση, χωρίς τη χρήση μιας πρόσθετης πηγής ενέργειας. Επιπλέον, μόλις ανιχνευθεί η υποβάθμιση του ανθεκτικού στοιχείου, τα διαγνωστικά στοιχεία κυκλώματος μπορούν να αντισταθμιστούν αυτόματα. Τα διαγνωστικά στοιχεία κυκλώματος περιλαμβάνουν ένα εξεταστικό κύκλωμα και ένα σύστημα επεξεργασίας. Το εξεταστικό κύκλωμα συνδέεται με το ανθεκτικό στοιχείο και διαμορφώνεται για να εφαρμόσει ένα σήμα δοκιμής στο ανθεκτικό στοιχείο. Το σήμα δοκιμής θερμαίνει το ανθεκτικό στοιχείο και αναγκάζει το ανθεκτικό στοιχείο για να παραγάγει ένα σήμα απάντησης. Το σύστημα επεξεργασίας συγκρίνει μια αλλαγή στο σήμα απάντησης σε μια αντίστοιχη αναφορά για να ανιχνεύσει την υποβάθμιση του ανθεκτικού στοιχείου.
