An exemplary embodiment of the invention is a method for LBIST testing
integrated circuit. The method includes generating a plurality of
multi-bit test patterns and grouping the multi-bit test patterns by a
plurality of test pattern partitions including a first test pattern
partition having a first number of bits and a second test pattern
partition having second number of bits greater than the first number. The
first test pattern partition is applied to the integrated circuit to
generate a first signature that is compared to a first reference signature
to detect a failure. The second test pattern partition is applied to the
integrated circuit to generate a second signature that is compared to a
second reference signature to detect a failure in the integrated circuit.
Примерным воплощением вымысла будет метод для LBIST испытывая интегрированную цепь. Метод вклюает производить множественность телевизионнаяа испытательная таблица мулти-bita и собирать телевизионнаяа испытательная таблица мулти-bita множественностью перегородок телевизионнаяа испытательная таблица включая первую перегородку телевизионнаяа испытательная таблица имея первый количество битов и вторую перегородку телевизионнаяа испытательная таблица имея второй число битов greater than первый номер. Первая перегородка телевизионнаяа испытательная таблица приложена к интегрированной цепи для того чтобы произвести первую подпись сравнена к первой подписи справки для того чтобы обнаружить отказ. Вторая перегородка телевизионнаяа испытательная таблица приложена к интегрированной цепи для того чтобы произвести вторую подпись сравнена к второй подписи справки для того чтобы обнаружить отказ в интегрированной цепи.
