Method and apparatus for testing and debugging a circuit

   
   

A series of secondary or "shadow" storage elements are employed that duplicate, or "shadow", the information in a circuit's core logic shadowed functional registers. These shadow storage elements are then coupled to form a separate, independently-addressable shadow scan path. The information contained in the shadowed functional registers of a circuit is then shifted out via the shadow scan path without altering the shadowed functional registers using special commands issued from a JTAG controller.

Una serie di elementi dell'ombra "o secondari" di immagazzinaggio รจ impiegata che duplicano, o "ombra", le informazioni in registri funzionali ombreggiati logica di nucleo del circuito. Questi ombreggiano gli elementi di immagazzinaggio allora coppia per formare un percorso separato e indipendente-accessibile di esplorazione dell'ombra. Le informazioni contenute nei registri funzionali ombreggiati di un circuito allora sono spostate fuori via il percorso di esplorazione dell'ombra senza alterare i registri funzionali ombreggiati usando gli ordini speciali pubblicati da un regolatore di JTAG.

 
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> Methods and apparatuses for measuring and controlling a laser output in a passive optical network

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