A system is provided for positioning separate portions of a sample in
elongate, parallel channels of a sample chamber and for irradiating a
sample in the chamber to create a diffraction pattern where the sample and
chamber differ in refractive index. The system also can measure absorption
of electromagnetic radiation by a sample in the chamber, and can measure
the absorption simultaneously with measurement of diffraction by the
sample.
Un système est donné pour placer les parties séparées d'un échantillon dans des canaux allongés et parallèles d'une chambre témoin et pour irradier un échantillon dans la chambre pour créer un diagramme diffraction où l'échantillon et la chambre diffèrent dans l'indice de réfraction. Le système peut également mesurer l'absorption du rayonnement électromagnétique par un échantillon dans la chambre, et peut mesurer l'absorption simultanément avec la mesure de la diffraction par l'échantillon.
