Circuit for non-destructive, self-normalizing reading-out of MRAM memory cells

   
   

A circuit is provided for the non-destructive, self-normalizing reading-out of MRAM memory cells. Accordingly, read currents of a memory cell are normalized by currents that are maintained at a voltage at which the size of these currents is independent of the cell content. The circuit has a simple construction and without great expenditure, permits the normalization of a read signal.

Een kring wordt verstrekt voor niet destructief, lezing-uit zelf-normaliserend van MRAM geheugencellen. Dienovereenkomstig, lees de stromen van een geheugencel door stromen worden genormaliseerd die bij een voltage worden gehandhaafd waarbij de grootte van deze stromen van de celinhoud onafhankelijk is. De kring heeft een eenvoudige bouw en zonder grote uitgaven, toelaat de normalisatie van een gelezen signaal.

 
Web www.patentalert.com

< Closed flux magnetic memory

< Technique for sensing the state of a magneto-resistive random access memory

> Three terminal magnetic random access memory

> Stacked columnar 1T-nMTJ MRAM structure and its method of formation and operation

~ 00115