A test program generates transmit vectors (stimuli) and receive vectors
(expected responses). The transmit vectors are applied to the DUT, while
the receive vectors are treated as comparison values used to decide if a
response from the DUT is as expected. While programming a FLASH part the
test program uses TAG RAM techniques to maintain a BAD COLUMN table in one
of the memory sets. This BAD COLUMN table is addressed by the same address
that is applied to the DUT. If an OMIT BAD COLUMN mode is in effect,
entries in this table are, by automatic action of the memory tester
hardware, obtained and used to supply a replacement programming data value
of all 1's that will produce an immediate and automatic indication of
successful programming from the DUT. This prevents spending extra time
programming a column that has been determined to be bad, without requiring
an alteration in the internal mechanism of the test program. The discovery
of bad columns and their recordation in the BAD COLUMN table can be
performed during an initial programming phase of the test program, or it
can be performed on an "as-discovered" basis during the course of
exercising a programmed FLASH DUT. These features may be combined with
automatic reading of a special BAD BLOCK table created in interior test
memory to facilitate the testing of memory parts that have an internal
block structure, by automatically disabling, and removing from further
influence on the test program, actions related to a bad block. That bad
block may or may not be in a DUT that is being tested in a multi-DUT
fashion.
Um programa do teste gera transmite vetores (stimuli) e recebe vetores (respostas previstas). Os vetores transmitir estão aplicados ao DUT, quando os vetores da recepção estiverem tratados como os valores da comparação se usaram se decidir se uma resposta do DUT for como esperada. Quando programar uma parte que FLASH o programa do teste usa técnicas da RAM do TAG manter uma tabela MÁ da COLUNA em uma da memória ajust-se-ar. Esta tabela MÁ da COLUNA é dirigida pelo mesmo endereço que é aplicado ao DUT. Se uma modalidade MÁ da COLUNA OMITIR for de fato, as entradas nesta tabela são, pela ação automática da ferragem do verificador da memória, obtida e usada fornecer um valor de programação dos dados da recolocação de todos os 1 que produza uma indicação imediata e automática da programação bem sucedida do DUT. Isto impede gastar a programação de tempo extra uma coluna que seja determinada ser má, sem reque uma alteração no mecanismo interno do programa do teste. A descoberta de colunas más e de seu recordation na tabela MÁ da COLUNA pode ser executada durante uma fase de programação inicial do programa do teste, ou pode ser executada em uma base "como-descoberta" durante exercitar um FLASH programado DUT. Estas características podem ser combinadas com a leitura automática de uma tabela especial do BLOCO MAU criada na memória interior do teste para facilitar testar das peças que têm uma estrutura de bloco interna, automaticamente incapacitando, e removendo de uma influência mais adicional no programa do teste, ações da memória relacionadas a um bloco mau. Que o bloco mau pode ou não pode estar em um DUT que esteja sendo testado em uma forma do multi-DUT.
