An optically coupled circuit is electrically coupleable to a capacitive
probe transducer disposed in a liquid in a tank for sensing the
capacitance of the probe transducer which is a measure of a parameter of
the liquid. A first converter circuit receives optical energy over a
non-conductive path and converts it into electrical energy at a
predetermined voltage potential from which first and second reference
voltage potentials are developed. A dual slope integrator circuit is
coupleable to the probe capacitor for charging it during a first
integration period and discharging it during a second integration period
utilizing the first and second reference voltage potentials. The
integrator circuit includes a circuit for comparing capacitive voltage
generated during the first and second integration periods with the first
and second reference voltage potentials to generate timing signals for
each integration period. The timing signals from two successive
integration periods are used for determining the capacitance of the probe
transducer. A system and method of determining the probe capacitance are
also disclosed.
Un circuito ópticamente juntado es eléctricamente coupleable a un transductor capacitivo de la punta de prueba dispuesto en un líquido en un tanque para detectar la capacitancia del transductor de la punta de prueba que es una medida de un parámetro del líquido. Un primer circuito del convertidor recibe energía óptica sobre una trayectoria non-conductive y la convierte en energía eléctrica en un potencial predeterminado del voltaje de el cual primero y de los segundos potenciales del voltaje de la referencia se conviertan. Un circuito dual del integrador de la cuesta es coupleable al condensador de la punta de prueba para cargarlo durante un primer período de la integración y descargarlo durante un segundo período de la integración que utiliza los primeros y segundos potenciales del voltaje de la referencia. El circuito del integrador incluye un circuito para comparar el voltaje capacitivo generado durante los primeros y segundos períodos de la integración con los primeros y segundos potenciales del voltaje de la referencia de generar las señales que miden el tiempo para cada período de la integración. Las señales que miden el tiempo a partir de dos períodos sucesivos de la integración se utilizan para determinar la capacitancia del transductor de la punta de prueba. Un sistema y un método de determinar la capacitancia de la punta de prueba también se divulgan.