A method of masking corrupt bits in test response pattern scan chains in an
integrated circuit, comprising loading and applying a set of test patterns
in the scan chains so as to obtain corresponding test response patterns;
and masking bits of the test response patterns located in scan chains
identified by a chain mask and at a position identified by a position
mask.
Een methode van maskerende corrupte beetjes in het patroon van de testreactie tast kettingen in een geïntegreerde schakeling af, bestaand uit lading en toepassend een reeks testpatronen in de aftastenketens om de overeenkomstige patronen van de testreactie te verkrijgen; en maskerende beetjes patronen van de testreactie die in aftastenketens worden gevestigd die door een kettingsmasker en bij een positie worden geïdentificeerd die door een positiemasker wordt geïdentificeerd.
