Apparatus and methods for investigation of radioactive sources in a sample

   
   

The invention provides an improved correction technique for use in analysing bodies of material containing radioactive sources. In particular the invention provides apparatus and a method, the method comprises a method of investigating radioactive sources in a body of material provided at an investigation location, the body of material comprising a plurality of samples, the method comprising detecting a portion of the emissions arising from a sample, the detested portion relating to a detected level, the detected level being corrected according to a correction method to give a corrected level, the method being repeated for one or more of the other samples, the correction method for one or more of the samples comprising providing a generator of radioactive emissions and detecting the radioactive emissions from the generator with the sample at investigating location, the relationship of the emissions detected with the sample at the investigating location to the emissions which would be detected with the sample absent from the investigating location determining a characteristic of the sample, the determined characteristic being employed as a factor in the correction method used for that sample to obtain the corrected level.

De uitvinding verstrekt een betere correctietechniek voor gebruik in het analyseren van organismen van materiaal dat radioactieve bronnen bevat. In het bijzonder verstrekt de uitvinding apparaten en een methode, de methode bestaat uit een methode om radioactieve bronnen in een lichaam van materiaal te onderzoeken dat bij een onderzoeksplaats wordt verstrekt, het lichaam van materiaal bestaand uit een meerderheid van steekproeven, de methode bestaand uit ontdekkend een gedeelte emissies die van een steekproef, het verafschuwde gedeelte met betrekking tot een ontdekt niveau het gevolg zijn, het ontdekte niveau dat volgens een correctiemethode wordt verbeterd een verbeterd niveau te geven, de methode die voor één of meer van de andere steekproeven, de correctiemethode voor één of meer van de steekproeven wordt herhaald bestaand uit verstrekkend een generator van radioactieve emissies en ontdekkend de radioactieve emissies van de generator met de steekproef bij emissies die met de steekproef bij de het onderzoeken plaats aan de emissies worden ontdekt die met de steekproef worden ontdekt afwezig van de het onderzoeken plaats die een kenmerk van de steekproef bepaalt, het bepaalde kenmerk dat als factor in de correctiemethode wordt aangewend die voor die steekproef wordt gebruikt het verbeterde niveau te verkrijgen.

 
Web www.patentalert.com

< System and method for analyzing and processing data on an object

< Image processing method, image processing apparatus and image recording apparatus

> Appearance inspection method and appearance inspection apparatus having high inspection processing speed

> Method for selecting representative endmember components from spectral data

~ 00113