The invention concerns a time-of-flight mass spectrometer for the analysis
of a large number of samples on a sample carrier using laser desorption
and associated analytical procedures. The invention uses a special beam
focusing system for the pulsed laser beam in a time-of-flight mass
spectrometer to generate a firm pattern of focal points, inserts a pattern
of samples on a sample carrier into the pattern of focal points, and
focuses the ions generated in the laser focal points by an ion-optical
imaging system onto one or more ion detectors in such a way that the
samples in the focus pattern are measured simultaneously or
quasi-simultaneously. The pattern of pulsed focal points can be created
simultaneously through spatially splitting the beam, or by a temporal
sequence of different deflections towards the firm locations of the
pattern.
Η εφεύρεση αφορά ένα μαζικό φασματόμετρο χρόνος-$$$-ΠΤΉΣΗΣ για την ανάλυση ενός μεγάλου αριθμού δειγμάτων σε έναν μεταφορέα δειγμάτων χρησιμοποιώντας την εκρόφηση λέιζερ και τις σχετικές αναλυτικές διαδικασίες. Η εφεύρεση χρησιμοποιεί μια ειδική ακτίνα στρέφοντας το σύστημα για την παλόμενη ακτίνα λέιζερ σε ένα μαζικό φασματόμετρο χρόνος-$$$-ΠΤΉΣΗΣ για να παραγάγει ένα σταθερό σχέδιο των σημείων εστίασης, παρεμβάλλει ένα σχέδιο των δειγμάτων σε έναν μεταφορέα δειγμάτων στο σχέδιο των σημείων εστίασης, και στρέφει τα ιόντα που παράγονται στα σημεία εστίασης λέιζερ από ένα ιονικός-οπτικό σύστημα απεικόνισης επάνω σε έναν ή περισσότερους ιονικούς ανιχνευτές κατά τέτοιο τρόπο ώστε τα δείγματα στο σχέδιο εστίασης μετριούνται ταυτόχρονα ή σχεδόν-ταυτόχρονα. Το σχέδιο των παλόμενων σημείων εστίασης μπορεί να δημιουργηθεί ταυτόχρονα μέσω στο χώρο να χωρίσει την ακτίνα, ή από μια χρονική ακολουθία διαφορετικών εκτροπών προς τις σταθερές θέσεις του σχεδίου.
