Changes in optical properties of layered materials are measured by
directing an incident wave of finite transverse dimensions toward layered
materials under conditions that will produce a propagating surface mode or
a waveguide mode in the layered materials. The intensity distribution is
measured within the transverse beam profile of the total reflected beam.
The profile shows asymmetric structure associated with the excitation of
the propagating surface mode or a wave-guide mode. The index of refraction
of the layered materials is modified and the reshaped intensity
distribution within the transverse beam profile of the total reflected
beam is again measured under the same incidence conditions. The measured
intensity distributions are compared to detect differences in the indexes
of refraction in the layered materials.
As mudanças em propriedades óticas de materiais mergulhados são medidas dirigindo uma onda do incident de dimensões transversais finitas para materiais mergulhados sob as circunstâncias que produzirão uma modalidade de superfície propagar ou uma modalidade do waveguide nos materiais mergulhados. A distribuição da intensidade é medida dentro do perfil do feixe transversal do feixe refletido total. O perfil mostra a estrutura asymmetric associada com a excitação da modalidade de superfície propagar ou de uma modalidade do wave-guide. O índice de refraction dos materiais mergulhados é modificado e a distribuição reshaped da intensidade dentro do perfil do feixe transversal do feixe refletido total é medida outra vez sob as mesmas circunstâncias da incidência. As distribuições medidas da intensidade são comparadas para detectar diferenças nos índices de refraction nos materiais mergulhados.
