A wavelength monitor capable of obtaining an optical detection signal of
high quality is proposed. In the wavelength monitor, a light incident
surface of an optical filter is disposed with an inclination relative to
the light incident direction. With this arrangement, it is possible to
make the route of a reflection light that has been reflected from the
light incident surface of the optical filter deviate large from the route
of an incident light that has been incident to the optical filter.
Consequently, the reflected light is prevented from being incident to a
semiconductor laser device or optical detectors.
Предложен монитор длины волны способный получать оптически сигнал обнаружения высокого качества. В мониторе длины волны, светлая поверхность случая оптически фильтра размещана с наклонением по отношению к светлому направлению случая. С этим расположением, по возможности сделать трассу света отражения который был отражен от светлой поверхности случая оптически фильтра отклоняет больш от трассы светом случая который был случай к оптически фильтру. Следовательно, отраженным светом предотвращен от быть случай к приспособлению лазера полупроводника или оптически детекторам.
