A system is provided for positioning separate portions of a sample in
elongate, parallel channels of a sample chamber and to irradiate a sample
in the chamber to create a diffraction pattern where the sample and
chamber differ in refractive index. The system also can measure absorption
of electromagnetic radiation by a sample in the chamber, and can measure
the absorption simultaneously with measurement of diffraction by the
sample.
Um sistema é fornecido posicionando parcelas separadas de uma amostra nas canaletas elongate, paralelas de uma câmara da amostra e para irradiate uma amostra na câmara para criar um teste padrão de diffraction onde a amostra e a câmara difiram no índice refractive. O sistema também pode medir o absorption da radiação eletromagnética por uma amostra na câmara, e pode medir o absorption simultaneamente com medida do diffraction pela amostra.
