Apparatus and method for measuring static charge on wafers, disks, substrates, masks, and flat panel displays

   
   

Apparatus and method and system for measuring and controlling electrostatic charge on objects such as semiconductor substrates include a cassette having an inner structure with supporting slots and electrically conductive regions, and having isolated conductive outer walls for supporting objects in the slots, and include a charge monitor connected to the conductive regions and the conductive walls for sensing charge applicable to one or more objects carrying static charge positioned within the cassette. Charge neutralization is controlled in response to sensed charge attaining a selected level.

Приборы и метод и система для измерять и контролировать электростатическую обязанность на предметах such as субстраты полупроводника вклюают кассету имея внутреннюю структуру с поддерживая шлицами и электрически проводными зонами, и изолирующ проводные наружные стены для поддерживать возражает в шлицах, и вклюает монитор обязанности соединенный к проводным зонам и проводным стенам для воспринимать обязанность применимую к one or more предметам нося статическую обязанность расположенную внутри кассета. Обезвреживание обязанности controlled in response to воспринятая обязанность достигая выбранного уровня.

 
Web www.patentalert.com

< Fresh commodity peeling system and method

< Composite material piping system

> Multi-functional electrical connector

> System and method for converting from single-ended to differential signals

~ 00108