Method and device for the spectral analysis of light

   
   

The method uses a physical phenomenon of dispersion of the optical rotation for identification of the spectral characteristics of light Polychromatic linearly polarized radiation passes through the environment that rotates a polarization plane of its spectral components, depending on their wavelength. After a subsequent passage through the analyzing polarizer, a dependence of the light intensity S(.phi.) on the angle .phi., that the analyzing polarizer forms with the polarization plane of the analyzed light, is measured. S(.phi.) is in a mathematical relationship with the spectrum of the analyzed radiation I(.lambda.), where .lambda. is a wavelength. S(.phi.) allows for the determination of the spectral characteristics of the analyzed radiation. In devices based on the above principle, the collimated polarized beam of the analyzed radiation passes first through the optical element that exhibits a dispersion of the optical rotation, i.e. rotator (4), then through the analyzing polarizer (5), and after a projection is detected by a proper detector (7). The detector measures S(.phi.) as a function of the angle .phi. of the analyzer. From S(.phi.) the parameters of the spectrum I(.lambda.) are determined.

Η μέθοδος χρησιμοποιεί ένα φυσικό φαινόμενο της διασποράς της οπτικής περιστροφής για τον προσδιορισμό των φασματικών χαρακτηριστικών των ελαφριών πολυχρωματικών γραμμικά πολωμένων περασμάτων ακτινοβολίας μέσω του περιβάλλοντος που περιστρέφεται ένα αεροπλάνο πόλωσης των φασματικών συστατικών του, ανάλογα με το μήκος κύματός τους. Μετά από μια επόμενη μετάβαση μέσω του αναλύοντας πολωτή, μια εξάρτηση της ελαφριάς έντασης S(.phi.) στη γωνία πχη., που ο αναλύοντας πολωτής διαμορφώνει με το αεροπλάνο πόλωσης του αναλυθέντος φωτός, μετριέται. S(.phi.) είναι σε μια μαθηματική σχέση με το φάσμα της αναλυθείσας ακτινοβολίας I(.lambda.), όπου λαμψδα. είναι ένα μήκος κύματος. S(.phi.) επιτρέπει τον προσδιορισμό των φασματικών χαρακτηριστικών της αναλυθείσας ακτινοβολίας. Στις συσκευές βασισμένες στην ανωτέρω αρχή, η παράλληλη πολωμένη ακτίνα της αναλυθείσας ακτινοβολίας περνά πρώτα μέσω του οπτικού στοιχείου που εκθέτει μια διασπορά της οπτικής περιστροφής, δηλ. rotator (4), κατόπιν μέσω του αναλύοντας πολωτή (5), και μετά από μια προβολή ανιχνεύεται από έναν κατάλληλο ανιχνευτή (7). Τα μέτρα S(.phi ανιχνευτών.) σαν λειτουργία της γωνίας πχη. της συσκευής ανάλυσης. Από S(.phi.) οι παράμετροι του φάσματος I(.lambda.) καθορίζεται.

 
Web www.patentalert.com

< Measuring apparatus utilizing attenuated total reflection

< Oximeter with nulled op-amp current feedback

> Non-intrusive method and apparatus for characterizing particles based on scattering matrix elements measurements using elliptically polarized radiation

> Particle dispersion determinator

~ 00108