A test data generating system and method to conduct high-speed operation
(actual operation test of an LSI using a tester. The system converts
existing simulation data to high-speed operation verifying test data which
is formed to obtain a predetermined output expectation value after a clock
signal is stopped for a predetermined period. The test data generating
system includes a selecting device to select first output expectation
values from simulation data and an inserting device to insert output
expectation values, which are identical to a predetermined number of the
first expectation values, after the first output expectation values. The
system also inserts an input pattern, which is identical to a
predetermined number of the input patterns, after the input pattern
corresponding to the first output expectation value. A replacing device
replaces the predetermined output expectation values of the simulation
data with third output expectation values, and a setting device sets the
first output expectation values to second output expectation values
determined from the simulation data based on the predetermined number or
the third output expectation values.
Testdaten, die System und Methode erzeugen, um Schnellbetrieb zu leiten (tatsächlichen Betrieb Test einer LSI mit einer Prüfvorrichtung. Das System wandelt vorhandene Simulation Daten in den Schnellbetrieb um, der Testdaten überprüft, die gebildet wird, um einen vorbestimmten Ausgang Erwartung Wert zu erhalten, nachdem ein Taktgebersignal während einer vorbestimmten Periode gestoppt ist. Die Testdaten, die System erzeugen, schließen eine Wahlvorrichtung ein, um erstes vorzuwählen, Erwartung Werte von den Simulation Daten und von einer einsetzenden Vorrichtung zu den Einsatzausgang Erwartung Werten, die zu einer vorbestimmten Anzahl von den ersten Erwartung Werten identisch sind, nach den ersten Ausgang Erwartung Werten auszugeben. Das System setzt auch ein Eingang Muster, das zu einer vorbestimmten Anzahl von den Eingang Mustern identisch ist, nach dem Eingang Muster ein, das dem ersten Ausgang Erwartung Wert entspricht. Eine ersetzende Vorrichtung ersetzt die vorbestimmten Ausgang Erwartung Werte der Simulation Daten mit dritten Ausgang Erwartung Werten, und eine einstellenvorrichtung stellt die ersten Ausgang Erwartung Werte auf die zweiten Ausgang Erwartung Werte ein, die von den Simulation Daten festgestellt werden, die auf der vorbestimmten Zahl oder den dritten Ausgang Erwartung Werten basieren.
