A test method and apparatus allows simultaneous loading of multiple scan
chains via a single common scan-in port (SDI) and a scan clock signal SCAN
CLOCK. Data is scanned into one or more scanpaths from a scan data in
(SDI) port under the control of a clock signal, either directly or
indirectly through a linear feedback shift register (LFSR). Scan-out data
output from the scanpaths may be read at the scan data out (SDO) port,
either directly or indirectly through a signature register with optional
masking functionality.
Eine Testmethode und -apparat erlaubt simultanes Laden der mehrfachen Scan-Ketten über ein einzelnes Common ablichten- im Tor (SDI) und in einem Scan-Taktgebersignal SCAN-TAKTGEBER. Daten werden in ein oder mehr scanpaths von Scan-Daten im Tor (SDI) unter der Steuerung eines Taktgebersignals, entweder direkt oder indirekt durch ein lineares rückgekoppeltes Schieberegister (LFSR) abgelichtet. LichtenSie Datenausgang von den scanpaths kann an den Scan-Daten aus Tor (SDO), entweder durch ein Unterzeichnungregister mit wahlweise freigestellter verdeckenfunktionalität direkt oder indirekt gelesen werden ab.
