Socket for testing of semiconductor device, and semiconductor device and method of manufacturing the semiconductor device

   
   

Electrode pads are formed on a tape circuit to correspond to positions of solder bumps on an IC. A plurality of pins formed on a periphery of the tape circuit provide electrical connection between the tape circuit and a mother socket. An elastomer sheet is provided between a portion of the tape circuit, on which the electrode pads are formed and the IC is mounted, and the mother socket, and a side surface of the sheet, which contacts with the tape circuit, is formed with cut grooves in lattice fashion such that respective centers of the electrode pads substantially coincide with intersections of the grooves. Thus portions defined by the grooves on the sheet are made independent from one another to enable accommodating pushing forces from the solder bumps, so that, even if dispersion in height generates between the solder bumps, the respective portions defined by the grooves are hardly influenced by one another, and so accommodate the pushing forces from the solder bumps to permit the solder bumps and the electrode pads to surely contact with each other.

De stootkussens van de elektrode worden gevormd op een bandkring om aan posities van soldeerselbuilen op IC te beantwoorden. Een meerderheid van spelden die op een periferie van de bandkring worden gevormd verstrekt elektroverbinding tussen de bandkring en een moedercontactdoos. Een elastomeerblad wordt verstrekt tussen een gedeelte van de bandkring, waarop de elektrodenstootkussens worden gevormd en IC wordt opgezet, en de moedercontactdoos, en een zijoppervlakte van het blad, dat de contacten met de bandkring, met gesneden groeven op roostermanier wordt gevormd dusdanig dat de respectieve centra van de elektrodenstootkussens wezenlijk met kruisingen van de groeven samenvallen. Aldus worden de gedeelten die door de groeven op het blad worden bepaald gemaakt onafhankelijk van elkaar om het aanpassen het duwen krachten van de soldeerselbuilen toe te laten, zodat, zelfs als de verspreiding in hoogte tussen de soldeerselbuilen produceert, de respectieve gedeelten die door de groeven worden bepaald nauwelijks door, elkaar worden beïnvloed en zo de het duwen krachten van de soldeerselbuilen aanpassen om de soldeerselbuilen en de elektrodenstootkussens toe te laten om zeker met elkaar te contacteren.

 
Web www.patentalert.com

< Contact probe and probe device

< Niobium powder, sintered body thereof, chemically modified product thereof and capacitor using them

> Surface acoustic wave device, method for producing the same, and circuit module using the same

> Sash for land grid arrays

~ 00105