Method for the photometric analysis of test elements

   
   

The invention concerns a method for the photometric analysis of test elements with a detection zone which is stable towards positioning tolerances of the detection zone comprising the following steps: activating the first light source to irradiate a first region of the detection zone and detecting the light reflected from the detection zone or transmitted through the detection zone in order to generate a first detection signal (50), activating the second light source to irradiate a second region of the detection zone which is displaced relative to the first region in the direction of the positioning tolerance and detecting the light reflected from the detection zone or transmitted through the detection zone in order to generate a second detection signal (60), comparing the first and the second detection signal and determining whether the first and/or the second detection signal has been obtained by illuminating an area situated completely on the detection zone. The invention also concerns a device to carry out this method and a method for the photometric analysis of a test element with detection of sample application.

Вымысел относится метод для фотометрического анализа элементов испытания с зоной обнаружения стабилизировано к располагать допуски зоны обнаружения состоя из following шагов: активирующ первый источник света для того чтобы облучить первую зону зоны обнаружения и обнаруживающ свет отраженный от зоны обнаружения или переданный через зону обнаружения для того чтобы произвести первый сигнал обнаружения (50), активируя второй источник света для того чтобы облучить вторую зону зоны обнаружения которая смещена по отношению к первой зоне в направлении располагая допуска и обнаруживать свет отраженный от зоны обнаружения или переданный через зону обнаружения для того чтобы произвести второй сигнал обнаружения (60), сравнивая первое и второй сигнала обнаружения и обусловливая был получен ли первый and/or второй сигнал обнаружения путем загораться область расположенная вполне на зону обнаружения. Вымысел также относится приспособление для того чтобы унести этот метод и метод для фотометрического анализа элемента испытания с обнаружением образеца программы.

 
Web www.patentalert.com

< SPR sensor and SPR sensor array

< Device and method for the examination of thin layers

> Imaging system using polarization effects to enhance image quality

> Apparatus and methods for determining biomolecular interactions

~ 00105