Method for guaranteeing a minimum data strobe valid window and a minimum data valid window for DDR memory devices

A method for testing the data strobe window (DQS) and data valid window (tDV) of a memory device (e.g., a DDR-type memory device) using the window strobe of a testing system.

Un método para probar la ventana del estroboscópico de los datos (DQS) y la ventana válida de los datos (tDV) de un dispositivo de memoria (e.g., un DDR-tipo dispositivo de memoria) usando el estroboscópico de la ventana de un sistema de prueba.