A method and computer system for checking a netlist N. An I/O connectivity list I.sub.1 for a first electrical package P.sub.1 is provided. I.sub.1 includes I/O locations on a surface S.sub.1 of the first electrical package P.sub.1. An I/O connectivity list I.sub.2 for a second electrical package P.sub.2 is also provided. I.sub.2 includes I/O locations on a surface S.sub.2 of the second electrical package P.sub.2. A netlist N that describes electrical nets between I/O locations on S.sub.1 and I/O locations on S.sub.2 is additionally provided. Denoting I as I.sub.1 and I.sub.2 collectively, a relationship exists between the I/O locations in N and the I/O locations in I, wherein the relationship is either a mutually consistent relationship or a mutually inconsistent relationship. The method and computer system determines whether the relationship is the mutually consistent relationship. An algorithm within the computer system may implement the method.

Метод и система компьютера для проверять netlist н. Обеспечен список I.sub.1 connectivity I/O для первого электрического пакета P.sub.1. I.sub.1 вклюает положения I/O на поверхности S.sub.1 первого электрического пакета P.sub.1. Список I.sub.2 connectivity I/O для второго электрического пакета P.sub.2 также обеспечен. I.sub.2 вклюает положения I/O на поверхности S.sub.2 второго электрического пакета P.sub.2. Netlist н описывает электрические сети между положениями I/O на S.sub.1 и положениями I/O на S.sub.2 дополнительн обеспечено. Обозначающ I как I.sub.1 и I.sub.2 собирательно, отношение существует между положениями I/O в н и положениями внутри iim I/O, при котором отношением будет или взаимно последовательным отношением или взаимно сбивчивым отношением. Метод и система компьютера обусловливают будет ли отношением взаимно последовательное отношение. Алгоритм внутри система компьютера может снабдить метод.

 
Web www.patentalert.com

< Design analysis workstation for analyzing integrated circuits

< Piecewise linear cost propagation for path searching

> Device modeling and characterization structure with multiplexed pads

> Method and apparatus of checking mount quality of circuit board

~ 00095