A measuring method capable of automatically analyzing quantitatively the inner state of a disk is provided. Linearly polarized light from a light source enters a retarder to produce a desired elliptically polarized state. The elliptically polarized light is then passed through a half-wave plate to rotate the direction of a principal axis of the ellipse. The light is expanded into two dimensions by lens systems and to obtain planar information, and is further transmitted through a disk substrate so that the birefringence of a specimen, which depends on an inner stress state and a polymer orientation state, changes the phase of the light. The light wave with its phase changed is passed through a polarizer arranged perpendicular to the principal axis of the retarder. The CCD detects the light wave as a light intensity.

Un método que mide capaz automáticamente de analizar cuantitativo el estado interno de un disco se proporciona. La luz linear polarizada de una fuente de luz entra en un retardador para producir un estado elíptico polarizado deseado. La luz elíptico polarizada entonces se pasa a través de una placa de media-onda para rotar la dirección de un eje principal de la elipse. La luz es ampliada en dos dimensiones por los sistemas de la lente y obtener la información planar, y transmitida más a fondo a través de un substrato del disco de modo que la birrefringencia de un espécimen, que depende de un estado interno de la tensión y de un estado de la orientación del polímero, cambie la fase de la luz. La onda ligera con su fase cambiante se pasa a través de un perpendicular dispuesto polarizador al eje principal del retardador. El CCD detecta la onda ligera como intensidad de luz.