An apparatus and method for determining certain correction factors in analyzing the vibration frequency characteristics of an electroded crystal plate. The developed correction factors are introduced to correct the inaccuracies of third-order thickness-shear cut-off frequencies. The analysis is preferably carried out during the design of a piezoelectric device incorporating the electroded crystal plate before production of the device.

Ein Apparat und eine Methode für die Bestimmung bestimmter Korrekturfaktoren, wenn sie die Erschütterung Frequenzeigenschaften von analysierten, electroded Kristallplatte. Die entwickelten Korrekturfaktoren werden eingeführt, um die Ungenauigkeiten von third-order zu beheben Stärke-scheren Grenzfrequenzen. Die Analyse wird vorzugsweise während des Designs eines piezoelektrischen Vorrichtung Verbindens electroded Kristallplatte vor Produktion der Vorrichtung durchgeführt.