An electronic system includes a source of test data, which, if the test data source is operating properly, is a pattern of a limited number of data words successively repeated. A memory device is coupled to the test data source and stores the test data. A memory test circuit compares the stored test data to successively repeated pattern data words and generates a signal to indicate whether the stored test data is the same as the successively repeated pattern data words.

Ein elektronisches System schließt eine Quelle von Testdaten ein, die, wenn die Testdatenquelle richtig funktioniert, ein Muster einer begrenzten Anzahl von den mehrmals hintereinander wiederholten Datenwörtern ist. Ein größtintegriertes Speicherbauelement wird zur Testdatenquelle verbunden und die Testdaten speichert. Ein Gedächtnisteststromkreis vergleicht die gespeicherten Testdaten mit mehrmals hintereinander wiederholten Musterdatenwörtern und erzeugt ein Signal, anzuzeigen, ob die gespeicherten Testdaten dieselben wie die mehrmals hintereinander wiederholten Musterdatenwörter sind.