An apparatus (10) and method for measuring the average thickness of a non-uniform coating (110) on a rough surface (40) are disclosed. A source of light (20) of substantially a single wavelength is directed at a coated surface (40) under investigation. The light reflected (5) from the surface (40) is incident on two or more photodetectors (70), which measure the intensities of different polarisation states. A processing means (90) is provided to calculate the average coating thickness from the measured polarisation state intensities.

Se divulgan un aparato (10) y el método para medir el grueso medio de una capa de non-uniforme (110) en una superficie áspera (40). Una fuente de la luz (20) de una sola longitud de onda se dirige substancialmente en una superficie revestida (40) bajo investigación. La luz reflejó (5) del (40) superficial es incidente en dos o más fotodetectores (70), que miden las intensidades de diversos estados de polarización. Un proceso significa que (90) está proporcionado para calcular el grueso de capa medio de las intensidades medidas del estado de polarización.