A deskew fixture has a multilayer circuit board from which pairs of mirrored signal launch contact extend from both sides of the circuit board. One pair of contacts is coupled to electrical ground and the other pair is connected via equal length, electromagnetically coupled strip lines to a signal source. Probe holders are mounted on the circuit boards to support measurement probes with the probing contacts of the measurement probes coupled to the signal launch contacts. Additional pairs of signal launch contacts may be provided with one pair receiving a positive signal from the signal source and another pair receiving a negative signal via equal length, electromagnetically coupled strip lines from the signal source for deskewing differential measurement probes.

Eine deskew Befestigung hat eine mehrschichtige Leiterplatte, von der Paare des widergespiegelten Signalprodukteinführung Kontaktes von beiden Seiten der Leiterplatte verlängern. Ein Paar Kontakte wird zum elektrischen Boden verbunden und das andere Paar wird über gleiche Länge, elektromagnetisch verbundene Streifenleiter zu einer Signalquelle angeschlossen. Prüfspitze Halter werden an den Leiterplatten angebracht, um Maßprüfspitzen mit den prüfenden Kontakten der Maßprüfspitzen zu stützen, die zu den Signalprodukteinführung Kontakten verbunden werden. Zusätzliche Paare Signalprodukteinführung Kontakte können mit einem Paar, das ein positives Signal von der Signalquelle empfangen und einem anderen Paar versehen werden, das ein negatives Signal über gleiche Länge, elektromagnetisch verbundene Streifenleiter von der Signalquelle für das Deskewing differentiale Maßprüfspitzen empfängt.