A low capacitance probe contact has electrically conductive contacts having fingers with opposing interior flat surfaces forming a slit there between. The fingers extend in a first direction with a mounting member extending in the opposite direction having a flat surface that is parallel to the flat surfaces of the fingers. The first and second electrically conductive contacts are secured to respective first and second electrically conductive contact pads formed on a substrate with the flat surfaces of the mounting members being positioned on the contact pads. The substrate and the electrically conductive contacts are captured within a housing having first and second members. One member has a base and extending sidewalls forming a recess that receives the substrate and the electrically conductive contacts and the other member has a periphery coextensive with the first member to capture the substrate and the electrically conductive contacts therein.

Un bas contact de sonde de capacité a électriquement les contacts conducteurs avoir des doigts avec s'opposer aux surfaces plates intérieures formant une fente là entre. Les doigts se prolongent dans une première direction avec un membre de support se prolongeant dans la direction opposée ayant une surface plate qui est parallèle aux surfaces plates des doigts. Les premiers et deuxièmes électriquement contacts conducteurs sont fixés aux premières et en second lieu électriquement conductrices garnitures respectives de contact formées sur un substrat avec les surfaces plates des membres de support étant placés sur les garnitures de contact. Le substrat et les contacts électriquement conducteurs sont capturés chez un logement ayant d'abord et les deuxièmes membres. Un membre a une base et prolonger des parois latérales formant une cavité qui reçoit le substrat et les contacts électriquement conducteurs et l'autre membre a une périphérie coextensive avec le premier membre pour capturer le substrat et les contacts électriquement conducteurs là-dedans.