This invention relates to a method for controlling the process of manufacturing a coating of a pharmaceutical product, comprising the steps of: performing a spectroscopic measurement on the coating; generating a sample vector of measurement values from the spectrometric measurement; condensing the measurement values into at least one principal parameter; comparing the principal parameter to a predetermined corresponding model parameter; determining deviations of the principal parameter from the corresponding model parameter and extracting information directly related to the quality of the coating; and controlling the process on the basis, at least partly, of the extracted information.

Questa invenzione riguarda un metodo per il controllo del processo di manufacturing un rivestimento di un prodotto farmaceutico, contenente i punti: realizzare una misura spettroscopica sul rivestimento; generazione del vettore del campione dei valori di misura dalla misura spettrometria; condensare i valori di misura almeno in un parametro principale; confrontando il parametro principale ad un parametro di modello corrispondente predeterminato; la determinazione delle deviazioni del parametro principale dal parametro di modello corrispondente ed estrarre le informazioni direttamente si sono riferite alla qualità del rivestimento; e controllando il processo sulla base, almeno parzialmente, delle informazioni estratte.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Systems and methods for generating custom reports based on point-of-sale data

> Precision low jitter oscillator circuit

> (none)

~ 00086