The present invention employs a thickness detecting mechanism including a system for emitting polarized light and a reception system for receiving reflected light and generating electric signals. By use of this thickness detecting mechanism, the thickness of a toner layer attached to a latent image is measured. Developing conditions are controlled in relation to the measured thickness.

A invenção atual emprega uma espessura que detecta o mecanismo including um sistema para emitir-se a luz polarizada e um sistema da recepção para receber sinais elétricos claros e gerando refletidos. Pelo uso desta espessura que detecta o mecanismo, a espessura de uma camada de tonalizador unido a uma imagem latente é medida. As circunstâncias tornando-se são controladas com relação à espessura medida.