A slit for probe-changing is provided above an opening for changing a test piece on a side of a test piece tube for installing test pieces. Probes are then taken out and inserted via this slit. Probes can therefore be changed without taking out the test piece tube or a thermocouple. This improves work efficiency and means that the work can be carried out in a confined space because the probes are pulled forward towards an operator and inserted in the opposite direction.

Een spleet voor sonde-verandert wordt verstrekt boven het openen voor het veranderen van een teststuk aan een kant van een buis van het teststuk voor het installeren van teststukken. De sondes worden dan genomen en via deze spleet opgenomen. De sondes kunnen daarom worden veranderd zonder de buis van het teststuk of een thermokoppel te nemen. Dit verbetert het werkefficiency en betekent dat het werk in een beperkte ruimte kan worden uitgevoerd omdat de sondes vooruit naar een exploitant worden getrokken en in de tegenovergestelde richting opgenomen.

 
Web www.patentalert.com

< Liquid crystal display device having electric field in areas with a control window formed thereon

< Network assisted pseudolite acquisition for enhanced GPS navigation

> Fluorescence digital imaging microscopy system

> Semiconductor memory device having test mode

~ 00079