A plurality of memory macros are laid out in a semiconductor chip. Macro ID generation circuits generate macro IDs for identifying the memory macros, and have different layouts. These macro ID generation circuits are arranged outside the memory macros in the semiconductor chip, so that test control blocks in the memory macros can use the same layouts between all the memory macros to reduce the design load.

Μια πολλαπλότητα των μακροεντολών μνήμης σχεδιάζεται σε ένα τσιπ ημιαγωγών. Τα μακρο κυκλώματα παραγωγής ταυτότητας παράγουν μακρο IDs για τον προσδιορισμό των μακροεντολών μνήμης, και έχουν τα διαφορετικά σχεδιαγράμματα. Αυτά τα μακρο κυκλώματα παραγωγής ταυτότητας τακτοποιούνται έξω από τις μακροεντολές μνήμης στο τσιπ ημιαγωγών, έτσι ώστε οι φραγμοί ελέγχου δοκιμής στις μακροεντολές μνήμης μπορούν να χρησιμοποιήσουν τα ίδια σχεδιαγράμματα μεταξύ όλων των μακροεντολών μνήμης για να μειώσουν το φορτίο σχεδίου.