A measuring apparatus includes a dielectric block, a film layer which is formed on a first face of the dielectric block and is brought into contact with a sample, an optical system which causes a light beam to enter the dielectric block through a second face so that the light beam is reflected in total internal reflection at the interface of the dielectric block and the film layer and various angles of incidence of the light beam to the interface can be obtained, and a photodetector which detects the intensity of the light beam which is reflected in total internal reflection at the interface and goes outside the dielectric block through a third face thereof. A measuring chip includes a single dielectric block having all the first to third faces and the film layer integrally formed on the first face of the dielectric block.

Uno strumento di misura include un blocco dielettrico, uno strato della pellicola che è formato su una prima faccia del blocco dielettrico ed è messo in contatto con un campione, un sistema ottico che induce un raggio di luce a fornire il blocco dielettrico attraverso una seconda faccia in moda da riflettere il raggio di luce nella riflessione interna totale all'interfaccia del blocco dielettrico e lo strato della pellicola ed i vari angoli dell'incidenza del raggio di luce all'interfaccia possano essere ottenuti e un rivelatore fotoelettrico che rileva l'intensità del raggio di luce che è riflesso nella riflessione interna totale all'interfaccia e va fuori del blocco dielettrico attraverso una terza faccia di ciò. Un circuito integrato di misurazione include un singolo blocco dielettrico che ha tutte le prime - terze facce e lo strato della pellicola formato integralmente sulla prima faccia del blocco dielettrico.