Described are methods and circuits for accurately placing signal transitions, or "edges," simultaneously on two or more pins of an integrated circuit (IC). A conventional tester is connected to an integrated circuit, such as a programmable logic device. The integrated circuit is adapted to include a coincidence detector that compares the timing of edges on two input pins of the integrated circuit. The coincidence detector indicates when the two edges are coincident, allowing an operator of the tester to adjust the tester to establish coincidence. The amount of offset necessary to provide coincident edges is stored in a database for later use in deskewing edges used in subsequent tests. The integrated circuit can be a programmable logic device configured to include one or more coincidence detectors with which to place edges relative to one another on different pins.

Περιγράφονται οι μέθοδοι και τα κυκλώματα για ακριβώς να τοποθετήσουν τις μεταβάσεις σημάτων, ή "οι άκρες," ταυτόχρονα σε δύο ή περισσότερες καρφίτσες ενός ολοκληρωμένου κυκλώματος (IC). Ένας συμβατικός ελεγκτής συνδέεται με ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα, όπως μια προγραμματίσημη συσκευή λογικής. Το ολοκληρωμένο κύκλωμα προσαρμόζεται για να περιλάβει έναν ανιχνευτή σύμπτωσης που συγκρίνει το συγχρονισμό των ακρών σε δύο εισαγμένες καρφίτσες του ολοκληρωμένου κυκλώματος. Ο ανιχνευτής σύμπτωσης δείχνει πότε οι δύο άκρες είναι συμπίπτουσες, επιτρέποντας σε έναν χειριστή του ελεγκτή για να ρυθμίσουν τον ελεγκτή για να καθιερώσουν τη σύμπτωση. Το ποσό όφσετ απαραίτητο να παρέχει τις συμπίπτουσες άκρες αποθηκεύεται σε μια βάση δεδομένων για την πιό πρόσφατη χρήση οι άκρες που χρησιμοποιούνται στις επόμενες δοκιμές. Το ολοκληρωμένο κύκλωμα μπορεί να είναι μια προγραμματίσημη συσκευή λογικής που διαμορφώνεται για να περιλάβει έναν ή περισσότερους ανιχνευτές σύμπτωσης με τους οποίους να τοποθετήσει τις άκρες σχετικά με τον έναν άλλος στις διαφορετικές καρφίτσες.