Diagnostic circuitry of a process device is used to detect degradation of a resistive element of the process device while the process device remains online and without an additional power source. The diagnostic circuitry includes a testing circuit and a processing system. The testing circuit is coupled to the resistive element and is configured to apply a test signal to the resistive element. The test signal heats the resistive element and causes the resistive element to generate a response signal. The processing system compares a time constant of the response signal to a corresponding reference to detect degradation of the resistive element.

El trazado de circuito de diagnóstico de un dispositivo de proceso se utiliza para detectar la degradación de un elemento resistente del dispositivo de proceso mientras que el dispositivo de proceso sigue siendo en línea y sin una fuente de energía adicional. El trazado de circuito de diagnóstico incluye un circuito de prueba y un sistema de proceso. El circuito de prueba se junta al elemento resistente y se configura para aplicar una señal de la prueba al elemento resistente. La señal de la prueba calienta el elemento resistente y hace el elemento resistente generar una señal de respuesta. El sistema de proceso compara una constante del tiempo de la señal de respuesta a una referencia correspondiente de detectar la degradación del elemento resistente.

 
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