A clock switching technique allows selecting an input clock signal from any number of clock sources. Multiplexed input clock signals are switched on the fly onto an internal clock line coupled to an output clock line. Clock glitches are allowed on the output clock line. A clock invalid signal is asserted synchronous with the internal clock line during the time clock glitches may potentially be generated. The clock invalid signal signifies that clock switching is in progress and can be used to reset circuits which use the output clock line preventing problems in those circuits typically caused by clock glitches during the period of output clock instability. The clock switching technique is independent of clock source frequency as well as the system clock frequency.

Μια τεχνική μετατροπής ρολογιών επιτρέπει ένα σήμα ρολογιών εισαγωγής από οποιοδήποτε αριθμό πηγών ρολογιών. Τα πολλαπλασιασμένα σήματα ρολογιών εισαγωγής είναι αναμμένα τη μύγα επάνω σε μια εσωτερική γραμμή ρολογιών που συνδέεται με μια γραμμή ρολογιών παραγωγής. Οι δυσλειτουργίες ρολογιών επιτρέπονται στη γραμμή ρολογιών παραγωγής. Ένα άκυρο σήμα ρολογιών βεβαιώνεται ότι σύγχρονος με την εσωτερική γραμμή ρολογιών κατά τη διάρκεια του χρόνου οι δυσλειτουργίες ρολογιών μπορούν ενδεχομένως να παραχθούν. Το άκυρο σήμα ρολογιών δηλώνει ότι η μετατροπή ρολογιών είναι υπό εξέλιξη και μπορεί να χρησιμοποιηθεί για να επαναρυθμίσει τα κυκλώματα που χρησιμοποιούν τη γραμμή ρολογιών παραγωγής που αποτρέπει τα προβλήματα σε εκείνα τα κυκλώματα που προκαλούνται χαρακτηριστικά από τις δυσλειτουργίες ρολογιών κατά τη διάρκεια της περιόδου αστάθειας ρολογιών παραγωγής. Η τεχνική μετατροπής ρολογιών είναι ανεξάρτητη από τη συχνότητα πηγής ρολογιών καθώς επίσης και τη συχνότητα ρολογιών συστημάτων.

 
Web www.patentalert.com

< Method, system and program products for managing central processing unit resources of a computing environment

< Transferring data between asynchronous devices

> I/O system supporting extended functions and method therefor

> Integrated circuit with scan test structure

~ 00077