This invention has its objects to provide a provide a fine particle arranging method which can accurately control the arrangement of fine particles. This invention is related to a fine particle which comprises arranging method which comprises arranging charged fine particles on a surface of an object, wherein areas having a relatively high electric potential (+(positive)) and areas having a relatively low electric potential (-(negative)) are alternately formed on said surface of the object, electric lines of force are formed based upon the areas having the relatively high electric potential (+(positive)) and the areas having the relatively low electric potential (-(negative)), and the fine particles are arranged at a relatively +(positive) bottom (1) position and/or a relatively -(negative) bottom (2) position of said electric lines of force.

Αυτή η εφεύρεση έχει τα αντικείμενά της για να παρέχει ότι παρέχετε ένα λεπτό μόριο που τακτοποιεί τη μέθοδο που μπορεί ακριβώς να ελέγξει τη ρύθμιση των λεπτών μορίων. Αυτή η εφεύρεση συσχετίζεται με ένα λεπτό μόριο που περιλαμβάνει την τακτοποίηση της μεθόδου που περιλαμβάνει την τακτοποίηση των χρεωμένων λεπτών μορίων σε μια επιφάνεια ενός αντικειμένου, όπου περιοχές που έχουν σχετικά υψηλό ηλεκτρικό έναν πιθανό ((θετικές)) και περιοχές που έχουν σχετικά χαμηλό ηλεκτρικό έναν πιθανό (- (αρνητικό)) διαμορφώνεται διαδοχικά στην εν λόγω επιφάνεια του αντικειμένου, οι ηλεκτρικές γραμμές δύναμης διαμορφώνονται βασισμένος στις περιοχές που έχουν σχετικά υψηλό ηλεκτρικό τον πιθανό ((θετικό)) και οι περιοχές που έχουν σχετικά χαμηλό ηλεκτρικό τον πιθανό (- (αρνητικό)), και τα λεπτά μόρια τακτοποιούνται σε μια σχετικά (θετικά) κατώτατη (1) θέση ή/και ένα α σχετικά - (αρνητική) κατώτατη (2) θέση