A method and apparatus for designing a circuit system, including selecting a plurality of pre-designed circuit blocks to be used to design the circuit system, collecting data reflecting the experience of the designer regarding the pre-designed circuit blocks, the designer's experience being adaptable to a processing method, accepting or rejecting a design of the circuit system in a manner based on the designer's experience data and acceptable degree of risk, upon acceptance, forming block specifications containing criteria and modified constraints for each of the circuit blocks, upon acceptance, forming block specifications for deploying the circuit blocks on a floor plan of a chip, as a system on a chip, in compliance with the criteria and modified constraints, and substantially without changing the selected circuit block and the processing method.

Een methode en een apparaat om een kringssysteem te ontwerpen, met inbegrip van het selecteren van een meerderheid van pre-ontworpen kring blokkeren worden gebruikt om het kringssysteem te ontwerpen, dat gegevens verzamelt die van de ervaring van de ontwerper betreffende de pre-ontworpen kringsblokken een weerspiegeling vormen, de ervaring die van de ontwerper aanpasbaar aan een verwerkingsprocédé, of een ontwerp van het kringssysteem goedkeurt verwerpt op een manier is die op de de ervaringsgegevens van de ontwerper en de aanvaardbare graad van risico, op goedkeuring wordt gebaseerd, die blokspecificaties vormt bevattend criteria en gewijzigde beperkingen voor elk van de kringsblokken, op goedkeuring, die blokspecificaties voor het opstellen van de kringsblokken op een vloerplan van een spaander, als systeem op een spaander, in naleving vormt pre-designed circuit blocks to be used to design the circuit system, collecting data reflecting the experience of the designer regarding the pre-designed circuit blocks, the designer's experience being adaptable to a processing method, accepting or rejecting a design of the circuit system in a manner based on the designer's experience data and acceptable degree of risk, upon acceptance, forming block specifications containing criteria and modified constraints for each of the circuit blocks, upon acceptance, forming block specifications for deploying the circuit blocks on a floor plan of a chip, as a system on a chip, in compliance with the criteria and modified constraints, and substantially without het veranderen van het geselecteerde kringsblok en het verwerkingsprocédé.

 
Web www.patentalert.com

< Boundary scan element and communication device made by using the same

< Assertion component in environment services patterns

> Developement of hardmac technology files (CLF, tech and synlib) for RTL and full gate level netlists

> Switch adapter testing

~ 00074