A set of high speed interconnect lines for an integrated circuit has an improved line-to-line capacitance and overall RC time constant. The high speed interconnect line set incorporates a series of interconnect lines, wherein shorter run lines are routed between longer run interconnect lines. As the short run interconnect lines reach their destination and fall away they open up the line spacing on the remaining interconnect lines and improve the line-to-line capacitance that dominates capacitive effects in modern reduced feature size integrated circuits. Additionally, the cross sectional area of the interconnect lines can be increased to lower the line resistance of longer run lines and compensate for the line capacitance without critically increasing the line-to-line capacitance of these lines and adversely affecting the overall line RC time constant. The capacitances, resistances, and RC time constants can be optimized for a single line of a group or for the entire group of interconnect lines, providing a low average value or a uniform value across all lines for uniform signal propagation delay across all of the optimized group.

Een reeks van hoge snelheid verbindt lijnen onderling want een geïntegreerde schakeling betere een lijn-aan-lijn capacitieve weerstand en algemene RC een tijdconstante heeft. De hoge snelheid verbindt lijnreeks onderling opneemt een reeks interconnect lijnen, waarin de kortere looppaslijnen tussen langer gelopen onderling verbinden lijnen worden geleid. Aangezien de korte looppas onderling verbindt bereiken de lijnen hun bestemming en vallen zij openstellen weg lijn het uit elkaar plaatsen op het blijven onderling verbinden lijnen en verbeteren de lijn-aan-lijn capacitieve weerstand die capacitieve gevolgen in de moderne verminderde geïntegreerde schakelingen van de eigenschapgrootte overheerst. Bovendien, kan het gebied in dwarsdoorsnede van de interconnect lijnen worden verhoogd om de lijnweerstand van langere looppaslijnen te verminderen en de lijncapacitieve weerstand te compenseren zonder kritisch het verhogen van de lijn-aan-lijn capacitieve weerstand van deze lijnen en ongunstig de algemene constante van de lijnrc tijd te beïnvloeden. De capacitieve weerstand, de weerstanden, en RC de tijdconstanten kunnen voor één enkele lijn van een groep of voor de volledige groep interconnect lijnen worden geoptimaliseerd, die een lage gemiddelde waarde of een eenvormige waarde over alle lijnen verstrekken voor de eenvormige vertraging van de signaalpropagatie over de elk van geoptimaliseerde groep.