A method and apparatus for storing and using chipset built-in self-test (BIST) signatures is provided. A BIST for a chip in a data processing system may be initiated by a power-on-reset in the data processing system. The BIST signature generated during the BIST is compared with a predetermined BIST signature stored in a vital products data (VPD) module associated with the chip is read. A difference between the generated BIST signature and the predetermined BIST signature is then reported.

Μια μέθοδος και μια συσκευή για και chipset τις ενσωματωμένες self-test (BIST) υπογραφές παρέχονται. Ένα BIST για ένα τσιπ σε ένα σύστημα επεξεργασίας δεδομένων μπορεί να αρχίσει από μια δύναμη-$$$-ΑΝΑΣΤΟΙΧΕΙΟΘΈΤΗΣΗ στο σύστημα επεξεργασίας δεδομένων. Η υπογραφή BIST που παράγεται κατά τη διάρκεια του BIST συγκρίνεται με μια προκαθορισμένη υπογραφή BIST που αποθηκεύεται σε μια ζωτικής σημασίας ενότητα στοιχείων προϊόντων (VPD) που συνδέεται με το τσιπ διαβάζεται. Μια διαφορά μεταξύ της παραγμένης υπογραφής BIST και της προκαθορισμένης υπογραφής BIST αναφέρεται έπειτα.