In a method of designing a layout of an LSI chip, which LSI chip has boundary scan registers, after arranging I/O cells and before arranging an internal logic circuit and the like, I/O connection boundary scan registers are preferentially arranged in empty regions of the I/O cells. Output I/O control boundary scan registers are arranged at intermediate points between the I/O connection boundary scan registers, respectively, or a chip side closer to the intermediate points. Thereafter, before arranging cells constituting other circuits and creating a wiring pattern, buffer cells are inserted into nets of test signals to the boundary scan register led to a test control circuit.

In un metodo di progettazione della disposizione di un circuito integrato di LSI, che il circuito integrato di LSI ha registri di esplorazione di contorno, dopo l'organizzazione delle cellule di I/O e prima dell'organizzazione un circuito logico interno e dei simili, i registri di esplorazione di contorno del collegamento di I/O sono organizzati preferenzialmente nelle regioni vuote delle cellule di I/O. I registri di esplorazione di contorno di controllo di I/O dell'uscita sono organizzati ai punti intermedi fra i registri di esplorazione di contorno del collegamento di I/O, rispettivamente, o un lato del circuito integrato più vicino ai punti intermedi. Da allora in poi, prima dell'organizzazione delle cellule che costituiscono altri circuiti e che generano un modello dei collegamenti, le cellule dell'amplificatore sono inserite nelle reti dei segnali della prova al registro di esplorazione di contorno condotto ad un circuito di controllo della prova.