An improved system and method for testing high frequency electronic devices. The improvement allows characteristics such as phase noise to be measured while a device under test changes operating frequency (frequency hops) at its normal rate. In accordance with the invention, a dynamic controller programs the frequencies of first and second frequency synthesizers at precisely controlled instants of time. For each of the first and second synthesizers, the dynamic controller includes a frequency memory for storing a sequence of frequency data, a counter for sequencing through the frequency memory, and a timing source for activating the counter. Data stored at each location of the frequency memory represents a frequency to which the respective synthesizer is to be programmed. The output from the first synthesizer is provided to the input of a device under test (DUT), in response to which the DUT generates and output signal. A mixer receives at its inputs the output of the DUT and the output of the second synthesizer. The mixer combines the two inputs to generate a test signal. The test signal can then be digitized, and the resulting digital samples can be evaluated. Under control of the timing source, the dynamic controller steps through different addresses of the frequency memories for the first and second synthesizers. At each memory location, new data are sent to the synthesizers at precisely controlled instants of time. New frequencies are established, and the test signal is again digitized. Characteristics of the DUT can be determined from the digital samples at each frequency that the DUT assumes.

Un sistema y un método mejorados para probar los dispositivos electrónicos de alta frecuencia. La mejora permite que las características tales como ruido de la fase sean medidas mientras que un dispositivo bajo prueba cambia la frecuencia de funcionamiento (saltos de la frecuencia) en su tarifa normal. De acuerdo con la invención, un regulador dinámico programa las frecuencias de primero y los segundos sintetizadores de la frecuencia en los instantes exacto controlados del tiempo. Para cada uno de los primeros y segundos sintetizadores, el regulador dinámico incluye una memoria de la frecuencia para almacenar una secuencia de los datos de la frecuencia, un contador para ordenar con la memoria de la frecuencia, y una fuente de la sincronización para activar el contador. Los datos almacenados en cada localización de la memoria de la frecuencia representan una frecuencia a la cual el sintetizador respectivo deba ser programado. La salida del primer sintetizador se proporciona a la entrada de un dispositivo bajo prueba (DUT), en respuesta a la cual el DUT genera y señal de salida. Un mezclador recibe en sus entradas la salida del DUT y la salida del segundo sintetizador. El mezclador combina las dos entradas para generar una señal de la prueba. La señal de la prueba puede entonces ser convertida a digital, y las muestras digitales que resultan pueden ser evaluadas. Bajo control de la fuente de la sincronización, el regulador dinámico camina con diversas direcciones de las memorias de la frecuencia para los primeros y segundos sintetizadores. En cada posición de memoria, los nuevos datos se envían a los sintetizadores en los instantes exacto controlados del tiempo. Se establecen las nuevas frecuencias, y la señal de la prueba se convierte a digital otra vez. Las características del DUT se pueden determinar de las muestras digitales en cada frecuencia que el DUT asume.

 
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< Network manager, nodes and network management system

< Transmitting apparatus and error handling method in transmitting apparatus

> Integrated multiple services switch testing system

> Data transmission between connected modules wherein each module separately and directly communication with each other modules

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