A method is described that decompresses at least a section of a first test pattern within a first decompression engine while simultaneously decompressing at least a section of a second test pattern within a second decompression engine. The first test pattern is to be applied to a first device under test (DUT) connection. The second test pattern is to be applied to a second DUT connection.

Um método é descrito que decompresses ao menos uma seção de um primeiro teste padrão de teste dentro de um primeiro motor do decompression ao simultaneamente decompressing ao menos uma seção de um segundo teste padrão de teste dentro de um segundo motor do decompression. O primeiro teste padrão de teste deve ser aplicado a um primeiro dispositivo sob a conexão do teste (DUT). O segundo teste padrão de teste deve ser aplicado a uma segunda conexão de DUT.