A testcase management system comprises a test suite including a plurality of testcases, wherein these testcases are cooperable with a test harness for executing a test run in which at least one of the testcases is executed on a system to be tested. A method and apparatus are provided for generating a list (overall list) indicative of the testcases that are to be executed during the test run. The overall list is generated as follows: A list is generated of all testcases in the test suite. Some of these testcases will have been fully tested in all environments and be verified as approved. They are manually added to an approved list. Others are disapproved and are manually added to a disapproved list. A list is automatically generated comprising those testcases which are neither approved nor disapproved. They are not-tested. Those testcases on the disapproved and not-tested lists are excluded from the overall list. Some of the testcases correspond to defects in the system to be tested which have not yet been fixed. These are added to a defect list and the testcases in this list are also excluded from the overall list.

Системаа организации хозяйства testcase состоит из сюиты испытания включая множественность testcases, при котором эти testcases cooperable с проводкой испытания для исполнять испытание в котором по крайней мере testcases исполнять на системе, котор нужно испытать. Метод и прибор обеспечены для производить indicative списка (общего списка) testcases должны быть исполненным во время испытания. Общий список произведен следующим образом: Список произведен всех testcases в сюите испытания. Некоторые из этих testcases полно будут испытаны в всех окружающих средах и быть подтверженным как одобрено. Они ручно добавлены к approved списку. Другие disapproved и ручно добавлены к disapproved списку. Список автоматически произведен состоя из тех testcases ни одобрены ни disapproved. Они не-ispytany. Те testcases на disapproved и не-ispytannyx списках исключены от общего списка. Некоторые из testcases соответствуют к дефектам в системе, котор нужно испытать пока не были зафиксированы. Эти добавлены к списку дефекта и testcases в этом списке также исключены от общего списка.

 
Web www.patentalert.com

< Log storage management in a data processing system using key-pointing

< Automatic design of VLIW processors

> Method and system for testing interconnected integrated circuits

> Process window based optical proximity correction of lithographic images

~ 00070