A non-contact, free-space method for determining the index of refraction of
a thin film at a desired angular frequency. The method includes generating
an input desired-frequency pulse and an optically detectable probe pulse.
The thin film is moved in and out of the path of the input pulse, creating
an output pulse that alternates between a transmitted signal, created when
the film intercepts the input pulse path, and a reference signal, created
when the sample is outside the input pulse path. The output pulse
modulates the probe pulse, which is then detected with a photo detector,
and the difference between the transmitted signal and the reference signal
is calculated. The above steps are repeated over a plurality of delay
times between the input pulse and the probe pulse until a complete field
waveform of the differential signal is characterized. The index of
refraction is calculated as a function of a ratio between the differential
signal for the thin film and the reference signal. A complete field
waveform of the reference signal may be characterized by repeating the
above steps for a reference plate identical to the sample except having a
non-transmissive film instead of the thin, transmissive film.
Внеконтактное, метод свободно-kosmosa для обусловливать индекс рефракции тонкой пленки на заданной угловой частоте. Метод вклюает производить ИМП ульс желать-castoty входного сигнала и оптически обнаруженный ИМП ульс зонда. Тонкая пленка двинута in and out of курс ИМПА ульс входного сигнала, создавая ИМП ульс выхода который чередует между переданным сигналом, созданный когда пленка перехватывает курс ИМПА ульс входного сигнала, и сигнал справки, созданный когда образец вне курса ИМПА ульс входного сигнала. ИМП ульс выхода модулирует ИМП ульс зонда, который после этого обнаружен с детектором фотоего, и высчитана разница между переданным сигналом и сигналом справки. Вышеуказанные шаги повторены над множественностью задерживают времена между ИМПОМ ульс входного сигнала и ИМПОМ ульс зонда до тех пор пока не охарактеризовать вполне форма волны поля дифференциального сигнала. Индекс рефракции высчитан как функция коэффициента между дифференциальным сигналом для тонкой пленки и сигналом справки. Вполне форма волны поля сигнала справки может быть охарактеризована путем повторять вышеуказанные шаги для плиты справки идентичной к образцу за исключением иметь non-transmissive пленку вместо тонкой, transmissive пленки.
